XXI Российская конференция по электронной микроскопии XXI РКЭМ

Конференция проводится с участием иностранных ученых и ученых из стран СНГ.

5–9 июня 2006 года, Черноголовка, Московская область.

Тематика конференции:

• Приборы и электронная оптика.
• Высокоразрешающая электронная микроскопия.
• Формирование контраста и моделирование изображения.
• Тонкие пленки, границы раздела, границы зерен.
• Применение электронной, туннельной и атомно-силовой микроскопии при исследовании наноструктур.
• Аналитическая электронная микроскопия.
• Электронография.
• Растровая электронная микроскопия.
• Сканирующая туннельная и атомно-силовая микроскопия.
• Методы электронной микроскопии в химии и геологии.
• Электронная микроскопия биомакромолекул.
• Электронная микроскопия микроорганизмов и клеточных структур.
• Современные методы исследования биологических структур.
• Электронная микроскопия в медицине.

Сроки:
Крайний срок представления тезисов докладов (в 2-х экземплярах) и заявки на участие в конференции: 20 февраля 2006 г.

Контакты:
119333, Москва, Ленинский пр., 59, ИК РАН имени А.В. Шубникова, Оргкомитет XXI РКЭМ ;
тел.: (495) 135-02-98;
факс: (495) 135-53-10;
E-mail: alla@ns.crys.ras.ru.

142432, Московская обл., Черноголовка, ИПТМ РАН, В.В. Казьмирук;
тел: (495) 962-80-53, (495) 962-80-74;
факс: (495) 962-80-47;
E-mail: kazmiruk@ipmt-hpm.ac.ru.

Подробнее о конференции
Подробнее о конференции